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				  	光源:二极管激光器(408nm 或 650nm); 测量克尔效应:极向克尔效应; 激光光斑直径:<φ1mm; 磁场:平面外方向 Max. >±20kOe (±2T); 晶圆尺寸:8 英寸或 12 英寸晶圆
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| 货号 : E80100172 | |
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用于磁性半导体的 8 英寸或 12 英寸晶圆目标映射测量的非接触式评估系统。
| 光源 | 二极管激光器(408nm 或 650nm) | 
|---|---|
| 测量克尔效应 | 极向克尔效应 | 
| 激光光斑直径 | <φ1mm | 
| 磁场 | 平面外方向:Max. >±20kOe (±2T) | 
| 晶圆尺寸 | 8 英寸或 12 英寸晶圆 | 
测量示例

 
 
 营业执照
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        用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25.pdf
 用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25.pdf