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EOT 太赫兹 VCSEL 光纤定制 横河光谱仪 TDLAS EDFA 观察镜 干涉仪 超快激光器 中红外相机 光束质量分析仪 光谱分析 TDLAS
在1000-2000nm附近具有高透射率的物镜。用于半导体器件故障分析,以检测漏电流发出的极微弱发射。当红外光从芯片背面穿过硅时,可以很好地观察到高度集成和多层布线的半导体。
注:硅校正镜片也可提供。