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电源输入：USB @ < 0.35 Amps；探测器类型：增强响应线性 CCD 阵列；像素格式：2048 × 1 像素，单像素尺寸 14 µm × 200 µm；光谱仪光学比（f/#）：3.6；光谱仪光学结构：Czerny-Turner；动态范围：300：1（单次采集）；数字化分辨率：16 位 或 65；535：1；读出速度：>2.0 MHz
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这是一款线阵 CCD 阵列光谱仪，其采用低杂散光光学平台，专为紫外性能优化设计。该光谱仪具备 2048 元探测器、内置 16 位数字化仪、USB 2.0 接口（读取速度＞2.0 MHz）以及外部触发功能。这款光谱仪具备温度补偿功能，可将热漂移大幅降至约 15 counts/℃。这一设计能减少基线漂移、维持动态范围，从而提升设备稳定性。
产品特点
尺寸紧凑
紫外杂散光低
具备紫外及紫外 / 近红外标准配置
光谱分辨率＞0.4 nm
16 位数字化仪
最短积分时间 1 ms
读取速度＞2.0 MHz
即插即用 USB 2.0 接口
应用领域
紫外（UV）、可见光（Vis）与近红外（NIR）相关领域
光谱学
光谱辐射测量
分光光度法
波长识别
吸光度测量
反射率测量
原始设备制造商（OEM）光学仪器组件
详细参数
光谱配置与接口选项
标准配置：提供两种标准光谱范围，分别为 200 nm - 400 nm 和 200 nm - 850 nm。
定制选项：针对原始设备制造商（OEM）应用，可提供定制化配置及 RS232 通信接口。
应用支持
该光谱仪是构建整体解决方案的关键组件。针对 OEM 应用，厂商还可提供系统开发与应用支持服务
配件
*光纤跳线
*光源
*比色皿支架
*在线滤光片支架
*光纤探头
软件：
BWSpec是一款光谱数据采集软件，配备多种工具，只需点击按钮即可执行复杂测量与计算任务。
该软件支持用户在多种数据格式间选择，还可优化积分时间等扫描参数。除强大的数据采集与数据处理功能外，其还具备多项特色功能，包括自动暗电流扣除、光谱平滑处理以及手动 / 自动基线校正。
此外，软件开发工具包（SDK）及演示代码可作为额外选项提供。
产品参数：
参数 | 说明 |
电源输入 | USB @ < 0.35 Amps |
探测器类型 | 增强响应线性 CCD 阵列 |
像素格式 | 2048 × 1 像素，单像素尺寸 14 µm × 200 µm |
光谱仪光学比（f/#） | 3.6 |
光谱仪光学结构 | Czerny-Turner |
动态范围 | 300:1（单次采集） |
数字化分辨率 | 16 位 或 65,535:1 |
读出速度 | >2.0 MHz |
数据传输速度 | 通过 USB 2.0 每秒可传输多达 480 条光谱 |
积分时间 | 1 - 65,535 ms |
热漂移 | ~15 计数/°C（Max. 约 29 计数/°C） |
辅助端口 | 外部触发、数字输入输出 |
工作温度 | 5°C - 35°C |
工作相对湿度 | 85% 非冷凝 |
重量 | ~0.8 lbs（0.37 kg） |
外形尺寸 | 3.82 × 2.64 × 1.34 英寸（98 mm × 67 mm × 34 mm） |
计算机接口 | USB 2.0 / 1.1 及增强型 RS232 |
操作系统 | Windows: 7、8、10、11 |
技术参数
1.光纤耦合器
固定光纤，可确保重复实验结果
将光纤连接至 SMA 905 适配器后，光线会被引导至狭缝并实现光学匹配，从而保证测量结果的可重复性。对于自由空间采样，可将扩散器或透镜组件直接连接至 SMA 905 适配器。
2.入射狭缝
决定光子通量与光谱分辨率进入光谱仪光学平台的光线，会通过预先安装并校准的狭缝进行遮光限制。在选定光栅后，该狭缝最终决定光谱仪的光谱分辨率与光通量。我们提供多种宽度的狭缝以匹配您的特定应用需求，同时也可提供定制化狭缝。
狭缝选择 | 尺寸规格 | 近似分辨率（200-400 nm） | 近似分辨率（200-850 nm） |
10 μm | 10 μm 宽 x 1 mm 高 | ~0.4 nm | ~1.0 nm |
25 μm | 25 μm 宽 x 1 mm 高 | ~0.6 nm | ~1.5 nm |
50 μm | 50 μm 宽 x 1 mm 高 | ~1.0 nm | ~2.5 nm |
100 μm | 100 μm 宽 x 1 mm 高 | ~1.6 nm | ~4 nm |
200 μm | 200 μm 宽 x 1 mm 高 | ~3.0 nm | ~8 nm |
可提供定制化狭缝宽度 | |||
3.准直镜
对光线进行准直并导向光栅两块镜片均为 f/# 匹配的聚焦镜，且带有紫外增强涂层。在紫外 - 可见光谱（UV-Vis）范围内工作时，该涂层可实现约 95% 的反射率。
4.衍射光栅
使光线发生衍射，分离光谱成分光栅的刻线密度（groove frequency）决定光谱仪性能的两个关键方面：波长覆盖范围与光谱分辨率。
刻线密度提高时，仪器分辨率会提升，但波长覆盖范围会缩小。
反之，刻线密度降低会扩大波长覆盖范围，但需以牺牲光谱分辨率为代价。
光栅的闪耀角（blaze angle）或闪耀波长（blaze wavelength）是优化光谱仪性能的关键参数。其中，闪耀角决定了光栅在特定波长区域内可实现的z高效率。
z佳效率 | 光谱覆盖范围（nm） | 光栅 |
UV | 200 - 400 | 1800 / 250 |
UV / NIR | 200 - 850 | 600 / 250 |
可提供定制化配置 |
5.聚焦镜
将已色散的光线重新聚焦到探测器上两块镜片均为 f/# 匹配的聚焦镜，且带有紫外增强涂层。在紫外 - 可见光谱（UV-Vis）范围内工作时，该涂层可实现约 95% 的反射率。
6.阵列探测器
同时测量全光谱
搭载一款 2048×1 线阵 CCD 阵列探测器，像素宽度为 14 μm，有效像素数＞2000 个。当入射光线照射到 CCD 上的各个像素时，每个像素对应光谱的一部分；电子元件会对这些信号进行转换，并通过 BWSpec® 软件以特定强度显示出来。
阵列探测器的量子效率（QE）和噪声水平，对光谱仪的灵敏度、动态范围及信噪比影响显著。而光谱仪的光谱采集速度，则主要由探测器在特定波长区域内的响应速度决定。
规格参数 | |
波长范围 | 200 nm - 850 nm |
像素 | 2048 |
像素尺寸 | 14 μm x 200 μm |
阱深 | ~65,000 e |
数字化速率 | >2.0 MHz |
紫外增强处理后量子效率（QE）曲线的延伸图
| 名称 | 型号货号 | 描述 | 价格 |
|---|
营业执照