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250-2000 nm反射式光束采样器


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产品总览

我们的高精度、高功率光束轮廓仪及光束定位系统系列全新推出了一款反射式光束采样器。这款精密的光学光束采样器通过两个正交排列的平面对光束进行两次反射,每个平面均反射约4%的入射光束。

 

产品特点

宽光谱覆盖;

低损耗采;

抑制杂散光;

高精度与高损伤阈值

 

产品应用

激光功率与光斑形态监测

在线光束分析科研与光学系统校准

 

详细参数

采样光束在保持入射光束形状和偏振特性的同时,可降低光束总功率:该通用附件可与以下测量头配合使用:

高分辨率光束

束流分析仪

spoT 在 CCD 上

  

适用于平行光束和聚焦光束

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光束开启/焦点开启CCD+SAM3                                                                   

                

针对HR+ SAM3的光束


光束分析仪+SAM3

特殊激光光纤结构

柔韧且坚固,适用于高功率和高亮度激光光束

精密连接器 D80

灵活且可定制的光缆解决方案,专为满足您的不一样需求而设计

可定制的光缆设计和配置

 

规格参数

参数项

MP-SAM3

MP-SAM3-HP

光谱范围

250-2000 nm

250-2000 nm

采样缩减系数

平均值 0.0016

1.1 × 10⁻⁵

尺寸

直径 40 mm × 长度 31 mm

直径 40 mm × 长度 31 mm

重量

40 克

40 克

通光孔径

8×8 mm

8×8 mm

从输入端到采样表面的Min. 光程

25 mm(取决于具体型号)

25 mm(取决于具体型号)

推荐气压

6-8 巴

推荐空气过滤

可去除小至 1 um的颗粒,包括水和油含量

推荐Max. N.A

0.2

 

 订购信息:

MP-SAM3 - A:适用于BeamOn/BeamOn HR/SpotOn CCD的衰减器及安装适配器

MP-SAM3-HP-A:适用于高功率光束的BeamOn/BeamOn HR/SpotOn CCD的衰减器及安装适配器

MP-SAM3-B:用于束流分析仪的衰减器及安装适配器

MP-SAM3-HP-B:高功率光束分析仪用衰减器及安装适配器

MP-SAM3:µBeam 衰减器

MP-SAM3-HP:高功率光束 µBeam 衰减器

 


其它型号
  名称 型号货号         价格
UV-NIR创新型光束轮廓仪(1.1英寸) 货号无
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350-1100nm 创新型光束轮廓仪(2/3英寸) 货号无
联系客服或  
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