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紫外-可见 波长范围：250-400nm、190-413nm、190-879nm、200-650nm、250-700nm；分辨率：0.08-7.12nm；积分时间：1us-2s；信噪比(@10ms单次扫描)：380：1；信噪比(高速平均模式)：25800：1
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该系列高分辨率光谱仪可以快速采集数据，并且具有良好的热稳定性。它可以用来精确测量紧密排列的光谱特征，在各种应用中识别峰值位置，如：低散杂光应用、半导体工艺、生物技术、制药、原子发射谱线识别等。
产品特点
高分辨率
热稳定
快速数据采集
应用领域
原子发射谱线识别
高速光谱采集
LED/激光表征
详细参数
型号 | 波长范围 | 分辨率(FWHM) | 刻线密度 | 闪耀波段 |
紫外-可见 | 250-400nm | 0.12-1.22nm | 1800 | 全息 |
190-413nm | 0.17-1.68nm | 1200 | 全息 | |
190-879nm | 0.52-5.36nm | 400 | 250nm | |
200-650nm | 0.35-3.52nm | 600 | 300nm | |
250-700nm | 0.44-4.44nm | 500 | 330nm | |
可见-近红外 | 350-800nm | 0.35-3.52nm | 600 | 400nm |
450-500nm | 0.08-0.77nm | 2400 | 全息 | |
400-850nm | 0.41-3.52nm | 600 | 500nm | |
450-650nm | 0.17-1.68nm | 1200 | 全息 | |
530-645nm | 0.12-1.22nm | 1800 | 全息 | |
340-1025nm | 0.53-5.36nm | 400 | 400nm | |
530-976nm | 0.35-3.52nm | 600 | 750nm | |
近红外 | 735-1000nm | 0.27-2.75nm | 900 | 500nm |
750-900nm | 0.16-1.68nm | 1200 | 750nm | |
750-1100nm | 0.35-3.52nm | 600 | 1000nm | |
扩展范围 | 200-1000nm | 0.71-7.19nm | 300 | 200nm |
200-1100nm | 0.71-7.19nm | 300 | 复合 | |
190-1100nm | 0.71-7.19nm | 300 | 500nm | |
狭缝 | 5、10、25、50、100、200um | |||
分辨率 | 0.08-7.12nm | |||
积分时间 | 1us-2s | |||
信噪比 | 380:1 | |||
信噪比 | 25800:1 | |||
接口 | SMA, TFM-108-02-L-DH Samtec, USB Type-C | |||
尺寸 | 148.8x106.4x48.2 mm | |||
重量 | 0.9306kg | |||
温度(工作) | 0℃– 55℃ | |||
温度(储存) | -30 °C 至 70 °C | |||
| 名称 | 型号货号 | 描述 | 价格 |
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营业执照