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用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25  

用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25
用于磁性半导体的 8 英寸或 12 英寸晶圆目标映射测量的非接触式评估系统。


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产品型号 1
货号 操作 名称
E80100172  用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25   [PDF] 光源:二极管激光器(408nm 或 650nm); 测量克尔效应:极向克尔效应; 激光光斑直径:<φ1mm; 磁场:平面外方向 Max. >±20kOe (±2T); 晶圆尺寸:8 英寸或 12 英寸晶圆    价格 : ¥0 库存/货期:请咨询客服
总览

用于磁性半导体的 8 英寸或 12 英寸晶圆目标映射测量的非接触式评估系统。

通用参数


光源二极管激光器(408nm 或 650nm)
测量克尔效应极向克尔效应
激光光斑直径<φ1mm
磁场平面外方向:Max. >±20kOe (±2T)
晶圆尺寸8 英寸或 12 英寸晶圆


测量示例

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