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半导体检测显微镜,半导体观测显微镜 日本三丰Mitutoyo FS70  

日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜,半导体观测显微镜 ,工作距离足够长,倍数高,能够应用在各种检测场合和质量确认方面。搭配Mitutoyo的全系列可见光远场校正镜头,显微镜系统的放大倍率可涵盖20X到8000X,工作距离范围从6到34mm。对焦目镜可安装直径为25mm的测量分划板来测量。50/50三端输出显微镜的粗调范围为50mm,精确调整分辨率可达0.1mm,并可同时进行视频输出和双目观测。

FS70系列半导体检测显微镜单元是一款带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。可应用于切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。



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MP-FS70 E80100060 日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜(半导体观测显微镜 20X到8000X工作距离6-34mm)   [PDF] 显微镜系统的放大倍率可涵盖20X到8000X;工作距离范围从6到34mm;精确调整分辨率可达0.1mm 价格 : 请联系客服 库存:请咨询客服
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